介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x在電工制造、電氣設(shè)備安裝、交接和預(yù)防性試驗(yàn)中都廣泛應(yīng)用。可以有效地發(fā)現(xiàn)電器設(shè)備絕緣的整體受潮劣化變質(zhì)，以及局部缺陷等，介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x是絕緣試驗(yàn)中很基本的方法。介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x的方法及特點(diǎn)是：
1、介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x采用復(fù)數(shù)電流法，測(cè)量電容、介質(zhì)損耗及其它參數(shù)。測(cè)試結(jié)果精度高，便于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)量。
2、介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x是采用了變頻技術(shù)來(lái)消除現(xiàn)場(chǎng)50Hz工頻干擾，即使在強(qiáng)電磁干擾的環(huán)境下也能測(cè)得可靠的數(shù)據(jù)；采用大屏幕液晶顯示器，測(cè)試過(guò)程通過(guò)漢字菜單提示既直觀(guān)又便于操作。
3、過(guò)流保護(hù)功能，在試品短路或擊穿時(shí)介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x的不受損壞；觸電保護(hù)功能，當(dāng)儀器操作人員不小心觸電時(shí)候，儀器會(huì)立即切斷高壓，保障試驗(yàn)人員的安全。
4、介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x操作簡(jiǎn)便，測(cè)量過(guò)程由微處理器控制，只要選擇好合適的測(cè)量方式，數(shù)據(jù)的測(cè)量就可在微處理器控制下自動(dòng)完成；反接線(xiàn)測(cè)試采用ivddv技術(shù),消除了以往反接線(xiàn)數(shù)據(jù)不穩(wěn)定的現(xiàn)象。 
5、一體化機(jī)型，內(nèi)附標(biāo)準(zhǔn)電容和高壓電源，便于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試，減少現(xiàn)場(chǎng)接線(xiàn)；接地保護(hù)功能，當(dāng)儀器不接地線(xiàn)或接地不良時(shí)，儀器不進(jìn)入正常程序，不輸出高壓。
6、介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x的測(cè)量準(zhǔn)確度高，可滿(mǎn)足油介損測(cè)量要求，因此只需配備標(biāo)準(zhǔn)油杯，和測(cè)試線(xiàn)即可實(shí)現(xiàn)油介損測(cè)量。
7、自帶CVT測(cè)試功能，可實(shí)現(xiàn)CVT的自激法測(cè)試，無(wú)需外置附件，可測(cè)量出C1,C2的電容和介損全部測(cè)出。
8、全自動(dòng)變頻介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x突破了傳統(tǒng)的電橋測(cè)量方式，采用變頻電源技術(shù)，變壓器、互感器、電抗器、電容器以及套管、避雷器等介損的測(cè)量是衡量其絕緣性能的基本方法。
9、介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x是利用單片機(jī)、和現(xiàn)代化電子技術(shù)進(jìn)行自動(dòng)頻率變換、模/數(shù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)運(yùn)算；達(dá)到抗干擾能力強(qiáng)、精度高、操作簡(jiǎn)便；廣泛適用于套管、電容器、互感器、避雷器等設(shè)備的介損測(cè)量。